Vom 4. bis 6. März 2026 fand in Monterrey, Mexiko, die IEEE International Conference on Industrial Technology (ICIT 2026) statt. Die ICIT (https://icit2026.ieee-ies.org/) zählt zu den wichtigsten Konferenzen der IEEE Industrial Electronics Society. Wissenschaftler und Ingenieure aus aller Welt erhalten hier ein Forum, um die neuesten Forschungsergebnisse und Ideen im Bereich der Industrieelektronik auszutauschen. In diesem Jahr war auch unsere Forschungsgruppe ELS vertreten. Michael Theiler stellte am ersten Konferenztag im Rahmen der Session „Data-driven Fault Diagnosis, Detection, and control in Industrial Systems“ seine Ergebnisse zum Thema „Cross-Cell Monitoring for Fault Detection in Battery Systems: Sensitivity to Initial Cell-to-Cell Variations” vor.
Im Mittelpunkt der Präsentation stand die Frage, wie sich anfängliche Zell-zu-Zell-Variationen auf die Früherkennung von Anomalien in Batteriesystemen auswirken. Damit betrachtet die Arbeit einen Einflussfaktor, der in der Forschung häufig nur am Rande betrachtet wird, jedoch für die praktische Auslegung und Bewertung datengetriebener Diagnoseverfahren von zentraler Bedeutung ist.
„Unsere Arbeit zeigt, dass einfache Schwellenwertverfahren zur Fehlererkennung in Batteriesystemen aufgrund unvermeidbarer Zell‑zu‑Zell‑Unterschiede schnell an ihre Grenzen stoßen“, betont Michael Theiler. „Die Hauptkomponentenanalyse erlaubt es, diese Unterschiede in der industriellen Praxis gezielt zu berücksichtigen und dadurch die Sicherheit des Batteriesystems zu erhöhen, indem Ausfälle früher und präziser erkannt werden.“
Neben den zahlreichen wissenschaftlichen Vorträgen bot die Konferenz aber auch weitere Highlights. Die Teilnehmer konnten sich über interessante Tutorials, Keynotes und das offizielle Bankett am 5. März, bei dem die Forschenden die Gelegenheit hatten, sich auszutauschen, freuen.
Die Teilnahme an der ICIT war für uns sehr wertvoll. Wir sind stolz darauf, dass wir unsere Erkenntnisse auf internationaler Ebene mit anderen Forschenden teilen konnten.
